در کتاب حاضر، روشها و دستگاههای پرکاربرد برای مشخصهیابی و آنالیز ریزساختار مواد بررسی و مبانی نظری و کاربردی نیز در قالب مثالهای مرتبط توضیح داده میشود. مبانی تئوری لازم تا حد امکان با زبانی ساده توضیح داده شده تا مخاطبان نیازی به رجوع به منابع دیگر نداشته باشند. همچنین این کتاب علاوه بر تشریح موضوعات اساسی، موضوعات بسیاری را نیز دربر میگیرد که بهصورت پراکنده در منابع مختلف وجود داشته است. نگارش متون، بیان شیوا و قابل فهم از ویژگیهایی است که در تدوین این کتاب به آن توجه خاصی شده است.
فصل 1 / میکروسکوپ الکترونی روبشی(SEM) 23
فصل 2- پرتو یونی متمرکز (FIB) 61
فصل 3- میکروسکوپ الکترونی عبوری(TEM) 87
فصل 4- روش توموگرافی پرتو ایکس (X-RAY TOMOGRAPHY) 123
فصل 5- طیفنگاری مادون قرمز(FTIR) 143
فصل6- طیفسنجی رزونانس مغناطیسی هسته(NMR) 167
فصل7- پراش اشعه ایکس(XRD) 203
فصل8- طیفسنجی پراکندگی انرژی (EDS) 227
فصل 9- نانو سختی سنجی (NANO INDENTATION) 243
فصل 10- میکروسکوپ نیروی اتمی(AFM) 269
فصل 11- تست خراشSCRATCH TEST)) 307
دسته بندی موضوعی | موضوع فرعی |
فنی و مهندسی |
مواد و متالوژی
|