روش های کاربردی مشخصه یابی ریز ساختار مواد .
نویسنده:
مجید بنی اسدی- همایون صفاحی
مترجم:
.
سال نشر:
1401
صفحه:
329
نوبت چاپ:
1

در کتاب حاضر، روش‌ها و دستگاه‌های پرکاربرد برای مشخصه‌یابی و آنالیز ریزساختار مواد بررسی و مبانی نظری و کاربردی نیز در قالب مثال‌های مرتبط توضیح داده می‌شود. مبانی تئوری لازم تا حد امکان با زبانی ساده توضیح داده شده تا مخاطبان نیازی به رجوع به منابع دیگر نداشته باشند. همچنین این کتاب علاوه بر تشریح موضوعات اساسی، موضوعات بسیاری را نیز دربر می‌گیرد که به‌صورت پراکنده در منابع مختلف وجود داشته است. نگارش متون، بیان شیوا و قابل فهم از ویژگی‌هایی است که در تدوین این کتاب به آن توجه خاصی شده است.  

 

فصل 1 / میکروسکوپ الکترونی روبشی(SEM) 23

 فصل 2- پرتو یونی متمرکز (FIB) 61

 فصل 3- میکروسکوپ الکترونی عبوری(TEM) 87

فصل 4- روش توموگرافی پرتو ایکس (X-RAY TOMOGRAPHY) 123

 فصل 5-  طیف‌نگاری مادون قرمز(FTIR) 143

 

فصل6- طیف‌سنجی رزونانس مغناطیسی هسته(NMR) 167

فصل7- پراش اشعه ایکس(XRD) 203

 فصل8- طیف‌سنجی پراکندگی انرژی (EDS) 227

 فصل 9- نانو سختی سنجی (NANO INDENTATION) 243

 

 

فصل 10- میکروسکوپ نیروی اتمی(AFM) 269

 

فصل 11- تست خراشSCRATCH TEST)) 307

 


تمامی حقوق این سایت برای سازمان ترویج مطالعه و نشر جهاد دانشگاهی محفوظ است. نقل مطالب با ذکر منبع بلامانع است.
Copyright ©2024 Iranian Students Booking Agency. All rights reserved